halcon抓边耗时优化问题

CallmeGC_ · 发表于 2025-5-19 15:55:52

本帖最后由 CallmeGC_ 于 2025-5-19 17:23 编辑

项目中采用halcon卡尺工具抓边

是否需要每次都初始化加载模型，比如下面的流程
每次抓边前→初始化模型→加载模型参数→抓边→清理模型资源

如果对于相同的检测物体，常规应用是否可以不需要每次都初始化模型，而只是进行抓边即可？
初始化模型：CreateMetrologyModel
加载模型参数：AddmetrologyObjectLineMeasure→SetMetrologyObjectParam
抓边：ApplymetrologyModel→GetmetrologyObjectResult
清理模型：ClearMetrologyModel

halcon2016 · 发表于 2025-5-20 09:05:43

是的。。。。。

gungun · 发表于 2025-5-20 09:51:08

初始化模型：CreateMetrologyModel
加载模型参数：AddmetrologyObjectLineMeasure→SetMetrologyObjectParam
这两步，做一次就行；下次测量，先把仿射过去，直接测量

CallmeGC_ · 发表于 2025-11-13 17:24:33

SetMetrologyObjectParam是不是耗时比较大，如果检测场景容易波动，输入的卡尺需要一直进行调整，是不是这个算法就不适用了

halcon抓边耗时优化问题

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