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[Halcon] 关于平面度补偿方式的问题

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itriedall 发表于 2024-2-15 16:09:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
要求机台测量铝片的平面度结果和三次元平面度测量结果相差不超过两条,允许通过补偿的方式减小误差。

测量方式:取30个点,最小二乘法拟合平面计算平面度
硬件:LMI
软件:halcon


目前考虑的造成与测次元测量结果存在误差的原因有一下几点:
(1)机台载具和三次元使用载具的误差
(2)由于铝片非常薄,取料过程中可能发生形变

我已经尝试过:
(1)对平面度结果整体进行补偿
(2)将实测的每个点位高度和三次元给出的点位高度一一对应

但是效果都不理想也不稳定,有没有大佬指点一下这种情况该怎么做补偿



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18861175562 发表于 2024-2-19 15:55:29 | 显示全部楼层
之前有做过 立着测的 稳定性还可以
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 楼主| itriedall 发表于 2024-2-19 21:40:28 | 显示全部楼层
18861175562 发表于 2024-2-19 15:55
之前有做过 立着测的 稳定性还可以

我们是平着测量的,而且和三次元测量方式也不一样
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adwlkdna 发表于 2024-3-27 16:29:50 | 显示全部楼层
我之前做的3D项目是不做CGK的  直接上盲测给客户看  ,跟你这个也是类似的特斯拉电池的底座下面的一个连接的东西,很容易发生形变
之前补偿的方式是(首先GRR要达标):三个物料软件和三次元分别测试得出值后 每个点位求均值 软件与三次元相减得到补偿  软件加上补偿减去三次元
我们之前是因为物料太软  来回运很容易有问题 三次元重复性太差了
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